Wydział Inżynierii Materiałowej

Na przełomie listopada i grudnia 2020 r. na Wydziale Inżynierii Materiałowej Politechniki Śląskiej odbyła się XVII Międzynarodowa Konferencja Mikroskopii Elektronowej (EM’2020). Przy organizacji wydarzenia współpracowano z:

• Instytutem Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN
• Polskim Towarzystwem Mikroskopii
• Stowarzyszeniem Absolwentów Wydziału Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PŚ
• Wydziałem Mechanicznym Technologicznym PŚ

Honorowy patronat nad konferencją objął JM Rektor Politechniki Śląskiej Prof. dr hab. inż. Arkadiusz Mężyk.
Konferencja miała zasięg międzynarodowy, uczestnikami byli przedstawiciele świata nauki z 13 krajów: Niemiec, Japonii, Wielkiej Brytanii, Francji, Włoch, Rosji, Szwajcarii, USA, Norwegii, Czech, Słowacji, Arabii Saudyjskiej oraz Polski. Znaczną grupę stanowili naukowcy z Politechniki Śląskiej i Instytutu Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN. Blisko 170 uczestników przez 3 dni wysłuchało 123 wystąpień (w tym: 11 wykładów proszonych, 37 wykładów plenarnych, 29 w sesji dla młodych naukowców i 46 w sesji posterowej). Odbyły się również dwa spotkania w konwencji „Okrągłego stołu” obejmujące tematy: „Mikroskopia elektronowa w badaniach biologicznych i medycznych” oraz „Zaawansowane techniki w skaningowej mikroskopii elektronowej i naukach pokrewnych”, które były platformą do wymiany doświadczeń między naukowcami.    
Tradycyjnie podczas konferencji przeprowadzono 3 konkursy: na najlepszą prezentację dla młodych naukowców, najlepszy poster oraz konkurs fotograficzny na najciekawsze zdjęcie otrzymane technikami mikroskopii. Wśród laureatów znaleźli się pracownicy naszej uczelni: mgr inż. Krzysztof Matus i dr hab. inż. Jan Jezierski, prof. PŚ z Wydziału Mechanicznego Technologicznego oraz dr inż. Agnieszka Tomaszewska z Wydziału Inżynierii Materiałowej.
Streszczenia referatów oraz postery opublikowane zostały w Book of Abstracts oraz Book of Posters. Uczestnicy konferencji mają możliwość opublikowania swoich wyników badań w wysokopunktowanych czasopismach, tj. Microscopy and Microanalysis (IF=3.414) oraz Archives of Metallurgy and Materials (IF= 0.586).