Wydział Inżynierii Materiałowej i Cyfryzacji Przemysłu

W dniach 30.11-2.12.2020 r. odbędzie się międzynarodowa konferencja XVIIth International Conference on Electron Microscopy (EM’2020). Po raz pierwszy została zorganizowana 57 lat temu, w 1963 r. przez profesora Stanisława Gorczycę i Akademię Górniczo-Hutniczą w Krakowie. Obecnie jest renomowaną konferencją międzynarodową, organizowaną we współpracy z Polskim Towarzystwem Mikroskopii (PTMi) co 3 lata, przez różne krajowe instytucje naukowe o najwyższym poziomie rozwoju i zastosowań metod mikroskopii elektronowej.
W tym roku głównym organizatorem jest Politechnika Śląska (przewodniczącymi są prof. dr hab. inż. Maria Sozańska i dr inż. Hanna Myalska), a wydarzenie jest organizowane we współpracy z Instytutem Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk w Krakowie, Polskim Towarzystwem Mikroskopii oraz Stowarzyszeniem Absolwentów Wydziału Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Politechniki Śląskiej. Ze względu na stan pandemiczny konferencja odbędzie się po raz pierwszy w formie on-line. Honorowy patronat nad wydarzeniem objął JM Rektor Politechniki Śląskiej prof. dr hab. inż. Arkadiusz Mężyk.
Konferencja stanowi platformę wymiany doświadczeń metodycznych i aplikacyjnych dla specjalistów z dziedziny mikroskopii elektronowej, krystalografii, materiałoznawstwa, chemii i fizyki ciała stałego oraz medycyny i biologii, umożliwiając im zapoznanie się z nowymi metodami i technikami stosowanymi w badaniach strukturalnych materiałów, jak również preparatów biologicznych i tkanek. Celem Konferencji EM'2020 jest przegląd ostatnich osiągnięć w zakresie mikroskopii elektronowej w następujących głównych obszarach tematycznych: analitycznej mikroskopii elektronowej i technik towarzyszących mikroskopii, obrazowania w SEM/STEM, krystalografii i technik HRTEM, obrazowania 3D, mikroskopii in-situ, a także aplikacji technik mikroskopii elektronowej w nauce o materiałach, chemii i fizyce oraz medycynie. Najszerszy zakres tematyczny konferencji obejmuje zastosowanie metod i technik mikroskopii elektronowej w badaniach właściwości materiałów, począwszy od tradycyjnych materiałów inżynierskich po badania nanomateriałów oraz wysokozaawansowanych materiałów funkcjonalnych. Przewidziano 11 wykładów zaproszonych prelegentów, 37 referatów plenarnych oraz 56 prezentacji posterowych. Dodatkowo, podczas EM’2020 odbędzie się Sesja Młodych Naukowców, w której będzie brało udział 31 osób. Uczestnikami są przedstawiciele świata nauki z 15 krajów: USA, Niemiec, Wielkiej Brytanii, Francji, Włoch, Szwajcarii, Grecji, Czech, Słowacji, Norwegii, Arabii Saudyjskiej, Nigerii, Konga oraz Ghany. Wśród uczestników konferencji znaczną grupę stanowią naukowcy z Politechniki Śląskiej, głównie z Wydziału Inżynierii Materiałowej oraz Wydziału Mechanicznego Technologicznego.
Tradycyjnie podczas konferencji będą zorganizowane 3 konkursy:

• dla młodych naukowców na najlepszą prezentację
• na najlepszy poster
• fotograficzny na najciekawsze zdjęcie otrzymane technikami mikroskopii

W trakcie Konferencji EM’2020 odbędą się również spotkania „Okrągłego stołu” obejmujące dwa obszary tematyczne: „Mikroskopia elektronowa w badaniach biologicznych i medycznych” oraz „Zaawansowane techniki w skaningowej mikroskopii elektronowej i naukach pokrewnych”.
Wśród 200 uczestników Konferencji EM’2020 gościć będziemy światowej sławy ekspertów z dziedziny mikroskopii elektronowej, naukowców z dziedziny inżynieria materiałowa oraz przedstawicieli środowiska medycznego.
Streszczenia referatów oraz postery opublikowane będą w Book of Abstracts oraz Book of Posters. Uczestnicy konferencji mają możliwość opublikowania swoich wyników badań w wysokopunktowanych czasopismach, tj. Microscopy and Microanalysis (IF=3,414) oraz Archives of Metallurgy and Materials (IF= 0,586).
Sponsorami konferencji EM’2020: Platinum Sponsor - COMEF, Gold Sponsor - PIK Instruments, Silver sponsor - LABSOFT oraz: TESCAN i Uni-Export. Wsparcie medialne konferencji zaoferowały: Narodowa Orkiestra Symfoniczna Polskiego Radia (NOSPR) w Katowicach oraz Muzeum Śląskie.