Absolwent Wydziału AEiI zwycięzcą konkursu Polskiego Towarzystwa Badań Nieniszczących i Diagnostyki Technicznej SIMP

Autor: System Publikacja: 03.11.2017

Absolwent Wydziału AEiI zwycięzcą konkursu Polskiego Towarzystwa Badań Nieniszczących i Diagnostyki Technicznej SIMP

Absolwent kierunku automatyka i robotyka na Wydziale Automatyki, Elektroniki i Informatyki mgr inż. Jan Wegehaupt zdobył główną nagrodę w ogólnopolskim konkursie za najlepszą pracę magisterską z dziedziny badań nieniszczących, zorganizowanym przez Polskie Towarzystwo Badań Nieniszczących i Diagnostyki Technicznej SIMP (Stowarzyszenia Inżynierów i Techników Mechaników Polskich). Gratulujemy!

Wręczenie nagrody przez prezesa PTBNiDT odbyło się 17października na sesji plenarnej 44. Krajowej Konferencji Badań Nieniszczących w Starachowicach. Praca mgr. inż. Jana Wegehaupta dotyczyła zagadnień pomiarów wilgotności i przepływu produktów mielenia w młynie elektromagnetycznym. Laureat, oprócz odebrania nagrody, wygłosił na konferencji referat, w którym przedstawił tezy swojej pracy. Dodatkowo zostanie opublikowany artykuł dotyczący pracy w czasopiśmie „Badania Nieniszczące i Diagnostyka”. Mgr inż. Jan Wegehaupt jest obecnie doktorantem na Wydziale Automatyki, Elektroniki i Informatyki.

Więcej informacji o nagrodzie na stronie: http://www.kkbn.pl/nagrody

Laureat, mgr inż. Jan Wegehaupt (w środku) odbiera nagrodę z rąk prof. Tadeusza Chady, Prezesa Polskiego Towarzystwa Badań Nieniszczących i Diagnostyki Technicznej SIMP (po prawej). Gratulacje odbiera również promotor pracy, dr inż. Dariusz Buchczik (po lewej).

Udostępnij: