Aparatura

Poczta

A A+ A++

spektrometry UV-Vis(-NIR)
fluorymetry
spektrometr FT-IR wyposażony w przystawkę ATR
ramanowski mikroskop konfokalny
system rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronowej
potencjostaty
mikroskop sił atomowych (AFM)
skaningowy mikroskop elektronowy (SEM)
profilometr optyczny
system do detekcji tlenu singletowego z wykorzystaniem spektroskopii UV-Vis wyposażony w zestaw laserów diodowych oraz źródła światła białego
aparatura do badania fotoluminescencji metodą spektroskopii czasowo-rozdzielczej
zintegrowany system badawczy XPS, UPS i IPES do pomiarów właściwości półprzewodnikowych materiałów organicznych do zastosowania w organicznych i hybrydowych urządzeniach elektronicznych

Polityka prywatności

Całkowitą odpowiedzialność za poprawność, aktualność i zgodność z przepisami prawa materiałów publikowanych za pośrednictwem serwisu internetowego Politechniki Śląskiej ponoszą ich autorzy - jednostki organizacyjne, w których materiały informacyjne wytworzono. Prowadzenie: Centrum Informatyczne Politechniki Śląskiej (www@polsl.pl)

Deklaracja dostępności

„E-Politechnika Śląska - utworzenie platformy elektronicznych usług publicznych Politechniki Śląskiej”