Konferencja Naukowo-Techniczna Podstawowe Problemy Metrologii

W dniach 18 – 19 maja br. odbędzie się  XV Konferencja Naukowo-Techniczna „Podstawowe Problemy Metrologii” (PPM’23). Organizatorem wydarzenia jest Katedra Metrologii, Elektroniki i Automatyki Politechniki Śląskiej.

Konferencja PPM jest cykliczną krajową konferencją naukowo-techniczną o wieloletniej tradycji, w której uczestniczą specjaliści zajmujący się pomiarami w różnych dziedzinach nauki i przemysłu. Tematyka konferencji jest bardzo rozległa, obejmując między innymi problematykę nowoczesnych systemów pomiarowych, Internetu Rzeczy, budowę, oprogramowania i symulacji systemów elektrycznych i elektronicznych oraz zagadnień związanych z dydaktyką metrologii.

W tym roku konferencja odbędzie się na Wydziale Elektrycznym Politechniki Śląskiej. Więcej informacji na stronie: https://ppm.polsl.pl..